Le principali differenze tra i test di illuminazione Standard CISPR 15: versioni 2018 e 2013

Ci sono molti feedback dei clienti secondo cui i loro apparecchi di illuminazione a LED non possono superare il test di radiazione EMI del certificato CE (30-300 MHz) nell'anno 2019, ma è lo stesso che può essere superato l'anno scorso. Perchè succede questo? Il motivo principale è che è stato aggiornato il nuovo standard di test EMI CISPR15:2018. Test EMI è il più importante e difficile da testare per gli apparecchi a LED. Questo articolo LISUN l'ingegnere ci porterà a studiare la nuova norma CISPR15:2018 rispetto a CISPR15: 2013.

L'ultima versione dello standard internazionale per apparecchi di illuminazione CISPR 15: 2018 è stata rilasciata il 16 febbraio 2018. Fare clic su di seguito per scaricare il nuovo standard:

Rispetto alla vecchia versione CISPR 15: 2013 + A1: 2015, le principali modifiche sono le seguenti:

1. Rimossi i requisiti del test di perdita di inserzione e l'appendice A correlata originale;

2. Table4, Table5, Table6 aggiungono i requisiti della tabella dei limiti di interferenza di conduzione per le porte di alimentazione per lampade ELV e cavi diversi dalle porte di alimentazione;

3. Apportate le seguenti modifiche per il valore dell'interferenza di conduzione delle interfacce di rete cablate (controllare i dettagli dagli standard Table2 e Table3):

A: Il nome viene aggiornato dal terminale di controllo alle interfacce di rete cablata;
B: Aumentato il limite per i test utilizzando la sonda di corrente e si afferma chiaramente che fino a quando la corrente di disturbo o la tensione di disturbo sono soddisfatte, l'interferenza di conduzione dell'interfaccia di rete effettiva può essere considerata conforme ai requisiti standard;

4. Le seguenti modifiche sono state apportate ai limiti di interferenza di conduzione delle interfacce cablate locali (controllare i dettagli dagli standard Table5 e Table6).

A: Il nome viene aggiornato dal terminale di carico alle porte cablate locali;
B: Aumentato il limite per i test usando la sonda di corrente, e si afferma chiaramente che fino a quando la corrente di disturbo o la tensione di disturbo sono soddisfatte, l'interferenza di conduzione delle porte cablate locali può essere considerata conforme ai requisiti standard;

5. Citare un nuovo metodo di prova per i disturbi del campo irradiato: il CDNE metodo, che sostituisce il metodo CDN originale;

6. Specifica se utilizzare il metodo CDN per valutare le misurazioni dei disturbi del campo irradiato, la frequenza di lavoro interna del prodotto deve essere ≤ 30 MHz e le dimensioni del prodotto devono essere controllate entro 3 m * 1 m * 1 m (Lunghezza * Larghezza * Altezza).

7. Il limite (QP / Quasi-peak) del metodo CDNE è più rigoroso;

8. Il layout di prova del metodo CDNE:

9. Oltre al metodo CDNE, le misurazioni dei disturbi del campo irradiato aumentano anche i requisiti di limite di 300 MHz ~ 1 GHz come segue (QP / quasi-picco, camera oscura a semionda 3m)

Frequenza di prova （MHz）	Limite dB (uV / m)
da 30 a 230	40
da 230 a 1000	47

10. Disposizione dei disturbi del campo irradiato nello spazio, aggiunta di un CDNE per alimentare l'EUT da testare:

11. Per le misurazioni del disturbo del campo irradiato dell'antenna a telaio, è stato aggiunto che un nuovo prodotto con dimensioni> 1.6 m può essere testato secondo il metodo in CISPR16-1-4: Test in un ambiente di 3 m utilizzando un'antenna a telaio da 60 cm in un campo aperto o una stanza buia a semionda. Questo metodo di prova può sostituire il test dell'antenna ad anello di 3m e 4m;

I limiti di questo metodo di prova sono i seguenti (QP / quasi-picco):

Frequenza di prova （MHz）	Limite dB （uV / m）
da 0.009 a 0.070	69
da 0.070 a 0.150	da 69 a 39
da 0.150 a 4.0	da 39 a 3
da 4.0 a 30.0	3

12. L'apertura del pannello conico dell'alloggiamento è stata modificata come segue:

13. Per la lampada auto-zavorrata che utilizza il cappuccio a baionetta GU10, l'alloggiamento conico o il cappuccio a baionetta stesso devono essere collegati a PE dell'AMN durante le misurazioni di disturbo condotte, come mostrato nel modo seguente:

14. Corretto il tempo di invecchiamento richiesto per testare alcuni degli apparecchi, e chiaramente specificato che gli apparecchi che utilizzano la tecnologia LED / OLED, nessun requisito di invecchiamento prima del test.

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